ORIGEN Y ESTABILIDAD DE LA MUTACIÓN X FRÁGIL EN POBLACIÓN VASCA

Autor: PEÑAGARIKANO AHEDO OLGA
Año: 2003
Universidad: PAIS VASCO
Centro de realización: FACULTAD DE CIENCIA Y TECNOLOGÍA
Centro de lectura: CIENCIA Y TECNOLOGÍA
Director: ARRIETA SÁEZ M. ISABEL
Tribunal: MÉNSUA FERNÁNDEZ JOSE LUIS , DE FRUTOS ILLÁN ROSA , PRIETO GARCÍA FÉLIX , CHIURAZZI PIETRO , LOSTAO ZUZA CARLOS
Resumen de la tesis

El síndrome X frágil es la forma más común de retraso mental hereditario. Está principalmente causado por la expansión de una repetición trinucleotídica (CGG) en la región 5'UTR del gen FMR1, localizando en el cromosoma X. Se han identificado diversos factores que influyen en la expansión de la repetición, tales como la longitud de la misma, su pureza y su asociación con determinados marcadores flanqueantes. Por tanto, la prevalencia de determinados alelos potencialmente inestables en una población puede afectar la incidencia de la enfermedad. El presente estudio muestra el análisis de los factores, conocidos hasta la fecha, que influyen en la expansión de la consecuencia repetitiva en una muestra de población vasca. Además, se han analizado muestras de diferente origne étnico con el objetivo de aportar una visión evolutiva de los factores moleculares que influyen en la generación de alelos inestables.
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